01.07.2007
EM TEST auf der EMC 2007 in Beijing
Traditionell nahm EM TEST nicht nur als Aussteller an der EMC 2007 in Beijing teil, sondern hielt darüber hinaus einen Vortrag, der parallel zur Ausstellung lief. Der EM TEST-Vortrag, welcher Themen aus dem Automotive-Bereich beinhaltete, wurde von unserem internationalen Verkaufsdirektor Herrn Germano Taddio gehalten und simultan von Herrn J. Tang aus dem EM TEST-Office Beijing übersetzt.
Der erste Teil des Vortrags behandelte die Erzeugung von Load Dump-Impulsen gemäß internationaler Normen und Automobilhersteller-Spezifikationen.
Der zweite Teil war auf Bordnetzphänomene wie Voltage Variation, Voltage-Dips und Drop-Outs ausgerichtet, so wie sie in verschiedenen Prüfspezifikationen verlangt werden.
Die zahlreichen und sehr interessierten Zuhörer zeigten große Anerkennung für die erhaltenen Informationen und die EM TEST-Lösungen, welche für diese Prüfanforderungen vorgestellt wurden. Die überragende Kompetenz von EM TEST für Automotive-Prüfungen wurde wieder einmal bestätigt.
Der EM TEST-Stand war exzellent entworfen und bestens ausgestattet. Neben den neuesten Automotive-Lösungen wurden auch die Höhepunkte der sonstigen EMV- Anwendungsbereiche vorgestellt, die eine Vielzahl von Besuchern anzogen.
Die EMC 2007 in Beijing war eine weitere erfolgreiche Veranstaltung in der Geschichte von EM TEST hinsichtlich stetig zunehmender Geschäftsbeziehungen und wachsender Marktanteile in China.
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